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产品详情

TeraSpike - LT-GaAs光电场检测器

TeraSpike是新一代的微探针,用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求,我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器,适用于太赫兹波长范围内,具有前所未有的性能,可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统,在860 nm以下光激发,这是最高性价比的解决方案,将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。

产品特点:

市场上最小的主动太赫兹探针,基于专利设计,悬臂厚度仅有1μm(DE102009000823.3) 
空间分辨率达3微米 
频率范围0-4太赫兹 
适用于所有基于激光的λ<860 nm的太赫兹系统
安装与标准光机械部件兼容 
典型的光激发功率:飞秒激光器1-5毫瓦(1-5微焦/平方厘米)

产品参数:


TeraSpike TD-800-  

      X-HR 

      X-HRS    

      X-HS 

    Z-A-500G 

Max. spatial resolution

3 μm

20 μm

100 μm

8 μm

Photoconductive gap size at tip

1.5 μm

2 μm

3 μm

5 μm

Dark current @ 1V Bias

< 0.5 nA

< 0。5 nA

< 0。4 nA

< 0。4 nA

Photocurrent

> 1 μA

> 0。6 μA

> 0.6 μA

> 0。5 μA

Excitation wavelength

700 nm 。。。 860 nm

Excitation power

1 mW ... 4 mW

Connection type

SMP


产品应用:

超太赫兹研究:超材料,等离子体,石墨烯,波导,... 
高分辨率太赫兹近场成像 
非接触式薄膜电阻半导体成像 
MMIC器件特性分析 
无损检测芯片 
时域反射计(TDR)

Measured near-field distribution of a gated graphene layer on SiO2-Si revealing conductivity inhomogeneity  测量在 SiO2-Si上的石墨烯膜层的近场分布

Measured near-field image of a pulse-excited THz metamaterial surface
测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像

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测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像

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